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 半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，其中，測(cè)試機(jī)是檢測(cè)芯片功用和機(jī)能的專用設(shè)備，需要具有高度集成、和高精度等特色。對(duì)于需要高機(jī)能、高可靠、高性價(jià)比解決方案的IC測(cè)試使用，ADI供給了全體的解決方案。

adi亞德諾的系統(tǒng)，這是支撐各種操縱系統(tǒng)和系統(tǒng)合作伙伴的工具套件和設(shè)計(jì)資源組合。此高機(jī)能的支撐各種使用，包含影像和機(jī)器學(xué)習(xí)、產(chǎn)業(yè)自動(dòng)化、國(guó)防、汽車和通訊系統(tǒng)。